Neue Ergebnisse von PITZ - Wichtiger Fortschritt für den europäischen XFEL

Der Plot für Experten: Bei einem Solenoidstrom von 372,6 Ampere wird in beiden transversalen Richtungen (X, Y) die minimale Emittanz erreicht.

Ende August 2007 wurde eine erfolgreiche Betriebsperiode bei PITZ (Photoinjektor-Teststand in Zeuthen) abgeschlossen.

Ein wichtiges Ziel der diesjährigen Strahlperiode waren Messungen der Elektronenstrahlparameter bei erhöhten Beschleunigungsgradienten von ca. 60 MV/m an der Kathode. Strahldynamiksimulationen versprechen für diesen Betrieb eine verbesserte Elektronenstrahlqualität. Die experimentelle Optimierung der so genannten Emittanz, dem Maß für die Bündelung und die Parallelität der Teilchen, konnte im Sommer bei PITZ durchgeführt werden und führte tatsächlich zu einer Verbesserung der Strahlqualität. In beiden transversalen Ebenen wurde eine normierte projizierte Emittanz von ca. 1,26 ± 0,19 mm mrad gemessen. Verwirft man einen Teil der Elektronen, der voraussichtlich nicht zum Lasing des XFEL beiträgt, ergibt sich sogar eine Emittanz von ca. 0,8 mm mrad.

Diese Ergebnisse stellen die derzeit kleinste gemessene Emittanz bei einer Ladung von einem Nanocoulomb (entspr. 6,3 Mrd. Elektronen) dar. Sie sind ein wichtiger Schritt auf dem Weg, die Anforderungen des europäischen XFEL zu erfüllen.

Im gegenwärtigen PITZ-Shutdown werden weitere Maßnahmen zur Verbesserung der Elektronenquelle getroffen, wie z.B. ein Upgrade des Kathodenlasers und ein Ausbau der Elektronenstrahl-Diagnostik.