II. Institut für Experimentalphysik/HASYLAB
Rastertunnelmikroskopie
(Prof. R.L.Johnson)

Unsere Arbeitsgruppe untersucht Halbleiteroberflächen, die mit verschiedenen Metallen bedampft werden. Hierdurch kommt es zu verschiedenen Rekonstruktionen der Oberfläche.

Bei bestimmten Substrat/Adsorbat-Systemen kann es, bei geeigneter Präparation, zu einer regelmäßigen Strukturierung der Oberfläche im Nanometerbereich kommen. Die hierbei entstandenen Nanostrukturen lassen sich mittels der Rastertunnelmikroskopie untersuchen.

Wir bieten interessierten Studenten/innen die Möglichkeit, auf diesem Gebiet eine Diplomarbeit anzufertigen.

Im Rahmen der Diplomarbeit soll untersucht werden, inwieweit sich die von unserer Gruppe bei den Systemen In auf Ge(001) und Ga auf Si(001) erzielten Resultate auf weitere Elemente der III. Hauptgruppe auf der Si(001)-Fläche übertragen lassen. Die Proben werden in unserer Arbeitsgruppe präpariert. Zur Untersuchung steht ein komplette Ultrahochvakuum(UHV)-Anlage zur Oberflächenanalyse zur Verfügung. Sie beinhaltet verschiedene Präparationskammern, ein Rastertunnelmikroskop (STM) und zusätzliche auf Elektronenbeugung basierende Systeme zur Strukturanalyse (LEED, RHEED, RHEED-TRAXS). Weiterhin befindet sich ein Tieftemperatur-STM im Aufbau, an welchem in nächster Zeit erste Testmessungen durchgeführt werden können.

Voraussetzung für diese Diplomarbeit sind grundlegende Kenntnisse aus den Vorlesungen zur Festkörperphysik. Ein Interesse für digitale Datenverarbeitung oder Bildverarbeitung sind hilfreich, aber nicht erforderlich.

Die Messungen erfolgen in enger Zusammenarbeit mit den anderen Mitgliedern der Arbeitsgruppe. Wir arbeiten direkt mit der Arbeitsgruppe für Oberflächenröntgenbeugung (SXRD) zusammen, so daß auch auf diesem Gebiet Erfahrungen gesammelt werden können. Es bestehen Kollaborationen mit verschiedenen ausländischen Forschungsgruppen, so daß internationale Kontakte vorhanden sind.

Diese Diplomarbeit bietet die Möglichkeit sich Kenntnisse in den Gebieten Oberflächenphysik, UHV-Technik, Präparationsmethodik, digitaler Datenverabeitung (UNIX, IDL, ...) und den oben erwähnten Meßtechniken (STM, LEED, RHEED, SXRD) anzueignen.

Unser Arbeitsplatz befindet sich auf dem DESY-Gelände in Bahrenfeld. Für einen unverbindlichen Besuch mit einer Führung durch unser Labor stehen wir gerne zur Verfügung.


Ansprechpartner:

  • R. Kosuch, Tel.: 040-8998 2220/2269
  • Prof. R.L. Johnson Tel.: 040-8998 3240


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    08.08.2000