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10.07.2012 / 10:00 / Zeuthen, SR 3
Technisches SeminarFehleranalyse an defekten Halbleiterbauelementen (Röntgen, öffnen von IC's, ...)
H.-D. Schriewer (Industrie)
Mehr Informationen: http://www-zeuthen.desy.de/cgi-bin/seminar.pl#current
